靈動微MCU測試過程中確保頻率校準方法
2019-12-06 10:55:11
靈動微32位MCU產(chǎn)品在市場上受到各行業(yè)的歡迎,成立至今為不同行業(yè)領域提供上百余種的MCU產(chǎn)品和應用解決方案.提供不同性能的MCU產(chǎn)品,針對不同領域制定不同的產(chǎn)品,如基于ARM 內(nèi)核M0及內(nèi)核M3 的MCU產(chǎn)品,包括:通用高性能市場的MM32F系列,具有超低功耗及安全應用的MM32L系列,擁有多種無線連接功能的MM32W系列,以及電機及電源專用的MM32SPIN系列,擁有OTP型的MM32P系列等,并可按照客戶要求定制MCU產(chǎn)品.下面
靈動微提供MCU在測試中如何確保頻率準確無誤的方法.
測試系統(tǒng)硬件由運行一組指令(測試程序)的計算機控制,在測試時提供合適的電壓、電流、時序和功能狀態(tài)給DUT并監(jiān)測DUT的響應,對比每次測試的結(jié)果和預先設定的界限,做出合格(PASS)或不合格(FAIL)的判斷。本篇文章的目的在于提供一種MCU的測試方法,使得在MCU的測試過程中確保頻率校準無誤,MCU的功能全部正常。為此提供了一種MCU的測試方法,包含以下步驟:
A.根據(jù)MCU的測試原理,做好測試前準備,包含:編輯測試程序;所述測試程序中窮舉所有的功能,生成測試矢量;
B.執(zhí)行測試矢量,對MCU芯片的各個管腳進行開短路測試;
C.對通過所述開短路測試的
MCU芯片,如果沒有燒寫過頻率,則進入內(nèi)置RC振蕩(IRC)測試模式,進行頻率校準,執(zhí)行測試矢量之后,用TMU測試測量頻率輸出端(P12)的頻率,根據(jù)所述測得的頻率算出校驗(MM)值;所述測試矢量中包含所述MM值;
D.將電源電壓(VDD )、高壓引腳電壓(VPP )和輸入高電壓(VIH)的電壓調(diào)整到5伏,將根據(jù)所述頻率輸出端測得的頻率算出的MM值代入測試矢量,執(zhí)行所述測試矢量之后,測量所述頻率輸出端的頻 率;如果測得的頻率不在預設的門限內(nèi),則判定所述MCU為不合格。
該篇文章實施方式相對于現(xiàn)有技術而言,對通過開短路測試的MCU,進入IRC測試模式,進行頻率校準,執(zhí)行測試矢量之后,用TMU測試測量頻率輸出端P12的頻率,根據(jù)測得的頻率算出麗值;接著將VDD、VPP和VIH的電壓調(diào)整到5伏,將根據(jù)頻率輸出端測得的頻率算出的MM值代入測試矢量,執(zhí)行測試矢量之后,測量頻率輸出端的頻率;并在測得的頻率不在預設的門限內(nèi)時,判定MCU為不合格。通過IRC頻率校驗和燒寫,對MCU的輸出頻率進行微調(diào),從而確保頻率校準無誤,MCU的功能全部正常。
本文關鍵詞: 靈動微
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